凝結了新技術的超高速、高精度激光位移傳感器上新增350mm長距離檢測頭,滿足用戶的一切需求。
| 區分 |
種類 |
形狀 |
檢測中心距離
和檢測范圍 |
分辨率 |
光束直徑 |
型號 |
激光等級 |
小型·超
高精度 |
小光點型 |
 |
10±1mm |
0.25μm |
約φ20μm |
HL-C201AE |
CLASS1 |
| 線性光點型 |
約20×700μm |
HL-C201AE-MK |
| 超高精度 |
小光點型 |
 |
30±5mm |
0.25μm |
約φ30μm |
HL-C203BE |
CLASS2 |
| 線性光點型 |
約30×1200μm |
HL-C203BE-MK |
| 中距離·高精度 |
小光點型 |
 |
110±15mm |
0.25μm |
約φ80μm |
HL-C211BE |
CLASS2 |
| HL-C211CE |
CLASS3R |
| 線性光點型 |
約80×1700μm |
HL-C211BE-MK |
CLASS2 |
| HL-C211CE-MK |
CLASS3R |
| 長距離·高精度 |
小光點型 |
 |
350±50mm |
0.5μm |
約φ250μm |
HL-C235BE |
CLASS2 |
| HL-C235CE |
CLASS3R |
| 線性光點型 |
約250×3500μm |
HL-C235BE-MK |
CLASS2 |
| HL-C235CE-MK |
CLASS3R |
可根據工件和用途,從10mm的超高精度型到350mm的長距離型中選擇最適用產品。
規格
| |
種類 |
小光點型 |
線性光點型 |
小光點型 |
線性光點型 |
| 項目 |
型號 |
HL-C235BE |
HL-C235BE-MK |
HL-C235CE |
HL-C235CE-MK |
| 設置模式 |
擴散反射時 |
正反射時 |
擴散反射時 |
正反射時 |
擴散反射時 |
正反射時 |
擴散反射時 |
正反射時 |
| 檢測中心距離 |
350mm |
348mm |
350mm |
348mm |
350mm |
348mm |
350mm |
348mm |
| 檢測范圍( 注2 ) |
±50mm |
±42mm |
±50mm |
±42mm |
±50mm |
±42mm |
±50mm |
±42mm |
| 分辨率(平均次數)(注3) |
2.0μm [256次]
0.5μm [4096次] |
| 線性度( 注4 ) |
±0.03% F.S. |
| 溫度特性 |
0.01% F.S./ ℃ |
| 光源 |
紅色半導體激光 級別2(JIS/IEC)
最大輸出1mW、投光波峰波長658nm |
紅色半導體激光 級別2(JIS/IEC)
最大輸出5mW、投光波峰波長658nm |
| 光束直徑( 注5) |
約φ250μm |
約250×3500μm |
約φ250μm |
約250×3500μm |
| 受光元件 |
線性圖像傳感器 |
(注1): 未指定時的檢測條件如下:連接控制器、電源電壓:24V DC、周圍溫度=+20℃、取樣周期40μs、平均次數256次、檢測中心距離、由白陶瓷制成的檢測物體、數字測定值。
(注2):取樣周期為20μs及10μs時的檢測范圍如下表所示。
| 型號 |
HL-C235□-MK |
| 設置模式 |
擴散反射時 |
正反射時 |
| 取樣周期 |
20μs |
0~+50mm |
0~+42mm |
| 10μs |
+36~+50mm |
+36~+42mm |
(注3)通過將P-P值換算成距離得到這些值。P-P值表示通過檢測中心距離測定值的分布。
(注4)此值表示采用本公司的標準檢測物體進行檢測時,相對于數字變位輸出的理想直線的誤差。此值會根據檢測對象的特征而改變。
(注5) 這是檢測中心距離上的值。以中心光強度的1/e2(約13.5%)定義這些值。如果定義區域外有光泄漏,并且檢測點周圍有高于檢測點本身的強反射,檢測結果可能會受到影響。
尺寸(單位mm)
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